科大讯飞华南人工智能研讨院请求一种 LED 封装资料瑕疵检测的新方法专利可对 LED 封装的全体质量进行量化评分
发布时间:2025-03-15所属分类:作者: 户外照明
金融界 2025 年 1 月 8 日音讯,国家知识产权局信息数据显现,科大讯飞华南人工智能研讨院(广州)有限公司请求一项名为“一种 LED 封装资料瑕疵检测的新方法”的专利,公开号 CN 119251148 A,请求日期为 2024 年 8 月。
专利摘要显现,本请求供给一种 LED 封装资料瑕疵检测的新方法,包含:针对别离后的各层图画,进行图画增强处理,得到明晰化的各层资料图画;针对所述识别出的穿插瑕疵区域,进行部分精密扫描,获取微米级的三维结构数据,重建出穿插瑕疵的精密描摹特征;依据所重建的穿插瑕疵结构,结合资料数据库中预先存储的许多资料功能参数,模拟计算瑕疵对 LED 功能的影响,包含光学、热学和机械功能;判别所述瑕疵的方位、巨细、类型以及对功能的影响程度,对 LED 封装的全体质量进行量化评分,得到终究的检测成果和质量等级断定。
天眼查资料显现,科大讯飞华南人工智能研讨院(广州)有限公司,成立于2017年,坐落广州市,是一家以从事研讨和实验开展为主的企业。企业注册资本10000万人民币。经过天眼查大数据分析,科大讯飞华南人工智能研讨院(广州)有限公司共对外出资了1家企业,参加招投标项目1次,专利信息125条,此外企业还具有行政许可6个。
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